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功率半導體(tǐ)和元器件檢定解決方案

2650最系列高功率最SourceMeter最SMU最儀器集精密電(diàn)源、電(diàn)流源、數字萬用表、任意波形發生(shēng)器、電(diàn)壓或電(diàn)流脈沖發生(shēng)器、電(diàn)子負載和觸發控制器于一(yī)體(tǐ)。2651A最型具有高電(diàn)流源功能和最1pA最分(fēn)辨率，非常适用于高亮度最LED、功率半導體(tǐ)、直流-直流轉換器、電(diàn)池、太陽能電(diàn)池以及其他高功率材料和元器件檢定。2657A最型最适合檢定和測試高壓電(diàn)子器件和功率半導體(tǐ)。

特點

優勢

高度靈活的四象限電(diàn)壓和電(diàn)流源/負載，與高精度電(diàn)壓表和電(diàn)流表相耦合提供同類的性能，具有最6½最位分(fēn)辨率。

源或阱最(2651A)最脈沖功率高達最2000W（±40V、±50A），或直流電(diàn)源高達最200W（±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A）；輕松連接兩個器件（串聯或并聯）創建高達最±100A最或最±80V最的解決方案支持功率半導體(tǐ)、HBLED、光器件、太陽能電(diàn)池以及最GaN、SiC最及其他複合材料和器件的檢定/測試。應用範圍包括半導體(tǐ)接點溫度檢定；高速、高精度數字化；電(diàn)遷移研究；以及高電(diàn)流、高功率設備測試。

源或阱最(2657A)最直流或脈沖功率高達最180W（±3000V@20mA、±1500V@120mA）提供功率半導體(tǐ)器件檢定和測試所需的高壓，包括最GaN、SiC最及其他複合材料和器件、高達最3kV最的故障和漏電(diàn)測試以及亞毫秒瞬态檢定。

内置基于網絡浏覽器的軟件支持通過任何浏覽器、任何計算機、從全球任何地方進行遠程控制。

有數字化或積分(fēn)測量模式可供選擇支持精确檢定瞬态和穩态行爲，包括快速變化的熱效應。

TSP（測試腳本處理）技術可以與最2657A最型與最2600B最系列型号輕松地進行系統集成。

TSP-Link最通道擴展總線支持将多台最2651A最和最2657A最與選定的最2600B最系列最SMU最儀器相結合，形成一(yī)個具有多達最32最個通道的集成系統。

兼容于最8010最型高功率設備測試夾具和最8020最型高功率接口面闆爲封裝部件或晶片級高功率設備測試提供安全而方便的連接。

免費(fèi)的測試腳本構建器軟件工(gōng)具幫助您創建、修改、調試和存儲最TSP最測試腳本。

選配的最ACS最基礎半導體(tǐ)元器件檢定軟件開(kāi)發、質量檢驗或故障分(fēn)析期間執行封裝部件檢定時，最大(dà)限度地提高工(gōng)作效率。

SMU 2650 系列高功率 SourceMeter® SMU 儀器

主要特點