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産品中(zhōng)心 / TEK PRODUCTS

低頻(pín)噪聲測量系統-NC300

主要特點

比其它方案速度提升10倍 最 最 最 最 最 最 最  

每個bias點隻需要5秒,保證同樣的精度和帶寬,滿足統計測試要求。 最 最 最 最 最 最 最  


業界最高噪聲靈敏度 最 最 最 最 最 最 最  

不僅滿足模拟設計要求的nA級電(diàn)流噪聲測試要求,還能滿足光器件暗電(diàn)流的噪聲測試。 最 最 最 最 最 最 最  


全新“自适應”系統噪聲消除算法實現低噪聲底和即插即用

适用于任何器件實驗室,無需繁瑣複雜(zá)的安裝調試,10分(fēn)鍾即可完成安裝,可爲客戶提供試用。 最 最 最 最 最 最 最  


多級放(fàng)大(dà)器智能選擇保證高系統Roll-off頻(pín)率 最 最 最 最 最 最 最  

即使測試小(xiǎo)電(diàn)流,NC300也能保證>100KHz的Roll-off頻(pín)率。 最 最 最 最 最 最 最  


支持自動機台,多die,多晶圓測試 最 最 最 最 最 最 最  

支持全部主流自動機台,也支持封裝器件測試。 最 最 最 最 最 最 最  


支持存儲器RTN測量,MEMS器件底噪,Q,和諧振頻(pín)率測量以及多種模拟電(diàn)路低頻(pín)噪聲分(fēn)析,如背景噪聲,電(diàn)源噪聲等

靈活拓展功能,适用于存儲器,MEMS,和模拟電(diàn)路噪聲分(fēn)析,不同于其它方案僅僅支持針對器件1/f噪聲建模,同時集成噪聲統計建模,電(diàn)路分(fēn)析,幫助用戶完成建模的同時分(fēn)析噪聲對電(diàn)路的影響。 最 最 最 最 最 最  


 


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