一(yī)體(tǐ)化

采用人工(gōng)智能算法驅動，業界首個集成IV測試、CV測試、低頻(pín)噪聲(1/f noise)于單台儀器中(zhōng)，無需換線和重新探針即可完成全部低頻(pín)參數化表征。

超快速

FS-Pro系列較傳統半導體(tǐ)參數測試系統，其測試速度高達10倍，業界首創AI測試加速卡，體(tǐ)驗強大(dà)速度提升，同時保持測試精度。

模塊化架構

PXI模塊化架構，可輕松擴展支持生(shēng)産測試（如 WAT）。

操作便捷

内置測量控制軟件LabExpress-Adv™，擁有直觀的用戶圖形界面，僅需點擊幾下(xià)鼠标就可以完成強大(dà)的器件特性分(fēn)析功能。

寬量程

高達200V，3A（脈沖，标準1A），0.1fA的靈敏度。

建模仿真

業界提供可選内置器件建模與仿真軟件。